English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 3318/3330 (100%)
造訪人次 : 2636838      線上人數 : 112
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋
    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://chihleeir.lib.chihlee.edu.tw/handle/310993300Q/2656


    題名: 【國科會專題研究計畫】不完美生產過程檢驗設備策略下之最佳檢驗站數量及製造量
    作者: 滕慧敏
    貢獻者: 致理科技大學企業管理系
    關鍵詞: 檢驗設備,不完美製造過程,品質成本
    日期: 2017-07-31
    上傳時間: 2018-03-01 19:24:12 (UTC+8)
    摘要: 品質要求已是現代企業的核心競爭力。為了維持產品的品質,企業必須付出相對的成本,因此如何取捨品質與成本的平衡,對管理者相當重要。本研究建構了數學模式,以求出最佳訂購量及最佳設備檢驗數量,使總利潤及最佳製造批量為最佳,研究中並藉由數值範例進行驗證;文中並進行敏感性分析。
    顯示於類別:[企業管理系(科)、企業管理系服務業經營管理碩士班] 教師專題研究計畫

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    不完美生產過程檢驗設備策略下之最佳檢驗站數量及製造量.pdf1696KbAdobe PDF1269檢視/開啟


    在CHIHLEEIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    TAIR相關文章

    100-101年度北區技專院校教學資源中心圖書資源共享聯盟提升計畫經費建置

    本站內容為致理科技大學無償提供學術研究與教育等公益性質用途,惟仍請適度、合理使用,以尊重著作權人權益。商業上之利用,則請先取得著作權人之授權

    2015年8月21日

    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋